Wykorzystanie testów symetrycznych w transparentnym testowaniu pamięci RAM
- MROZEK Ireneusz
- Kategoria: Pozostałe zagadnienia
Artykuł przedstawia strategię testowania pamięci wykorzystywaną w technice BIST opartą o symetryczne testy pamięci. Technika symetrycznych testów pamięci gwarantuje, iż proces testowania odbywa się w niezwykle efektywny i szybki sposób. Jej wykorzystanie pozwala zmniejszyć złożoność procesu testowania o około 30% w porównaniu ze standardową metodą testowania transparentnego opartą o sygnaturę odniesienia. Fakt ten ma niezwykle istotne znaczenie jeśli weźmie się pod uwagę bieżące i przyszłe rozmiary używanych pamięci
Ciągły rozwój technologiczny sprawia, iż w bardzo dużym tempie zwiększa się rynek systemów jednoukładowych i systemów wbudowanych (99% wszystkich obecnie produkowanych procesorów stanowią procesory przeznaczone do systemów wbudowanych i systemów czasu rzeczywistego [9,10, 13]). Rozwój ten powoduje, iż wzrasta zapotrzebowanie na coraz bardziej niezawodne i odporne na awarie (ang. fault tolerant) pamięci półprzewodnikowe. Należy zauważyć, iż w obecnych systemach jednoukładowych, pamięć zajmuje ponad 50% całej powierzchni krzemowej układu SoC, a prognozuje się, iż w niedalekiej przyszłości wielkość ta wzrośnie do 90% [2]. Dodatkowo systemy jednoukładowe i systemy wbudowane pracują jako systemy o znaczeniu krytycznym. Zastosowanie to sprawia, iż bardzo istotny staje się proces testowania wszystkich podzespołów wchodzących w skład tych systemów w tym pamięci, która jest ważnym elementem składowym ich konstrukcji. Aby zapewnić prawidłowe działanie systemów krytycznych testowanie powinno odbywać nie tylko w fazie produkcji, ale również w trakcie ich eksploatacji. (...)
Artykuł zawiera 25174 znaków.
Źródło: Czasopismo Logistyka